научная статья по теме ДАНИЭЛЬ МОИСЕЕВИЧ ХЕЙКЕР (К 85-ЛЕТИЮ СО ДНЯ РОЖДЕНИЯ) Химия

Текст научной статьи на тему «ДАНИЭЛЬ МОИСЕЕВИЧ ХЕЙКЕР (К 85-ЛЕТИЮ СО ДНЯ РОЖДЕНИЯ)»

КРИСТАЛЛОГРАФИЯ, 2015, том 60, № 2, с. 353-354

ЮБИЛЕИ

ДАНИЭЛЬ МОИСЕЕВИЧ ХЕЙКЕР (К 85-ЛЕТИЮ СО ДНЯ РОЖДЕНИЯ)

DOI: 10.7868^0023476115020113

4 апреля 2015 года исполняется 85 лет заслуженному деятелю науки РФ, доктору физико-математических наук, профессору Даниэлю Моисеевичу Хейкеру — главе отечественной школы рентгеновской дифрактометрии, крупному специалисту в области рентгеноструктурного анализа и научного приборостроения, автору более 200 научных трудов, в том числе трех монографий.

Даниэль Моисеевич Хейкер родился в Житомире в 1930 г. Закончив с серебряной медалью среднюю школу в 1947 г., он поступает в Московский механический институт (ныне МИФИ) и, работая под руководством профессора Г.С. Жданова, публикует в ЖЭТФ свои первые работы: "Структура сверхпроводников. Рентгенографическое исследование ЫРё" и "Простой метод

расчета множителя поглощения в рентгенострук-турном анализе".

Закончив в 1963 г. с отличием МИФИ, Д.М. Хейкер поступает на работу инженером во ВНИИ Асбестцемент. Там он создает лабораторию физических методов исследования, полностью оснастив ее аппаратурой для электронной микроскопии, ИК-спектроскопии и рентгеновской дифрактометрии.

В 1958 г. Д.М. Хейкер успешно защищает кандидатскую диссертацию на тему "Дифрактомет-рические методы решения некоторых основных задач рентгеноструктурного анализа".

С 1964 г. по настоящее время Даниэль Моисеевич работает в Институте кристаллографии РАН. Здесь в 1972 г. он защищает диссертацию на степень доктора физико-математических наук на тему "Рентгеновская дифрактометрия". Под его руководством были созданы автоматические наклонные дифрактометры типа ДАР и четырех-кружный дифрактометр для монокристаллов типа РЭД. С середины 70-х гг. Д.М. Хейкер ведет работы по разработке и изготовлению в нашей стране автоматических рентгеновских дифракто-метров с координатными двумерными детекторами. В 1980 г. Д.М. Хейкер, объединив технические возможности ЛВЭ ОИЯИ (Дубна) и СКБ Института кристаллографии, создал дифрактометр КАРД с двумерным детектором на основе пропорциональной камеры с 256 х 256 элементами пространственного разрешения. В течение многих лет на этом уникальном в нашей стране приборе были исследованы сотни образцов монокристаллов белков и их производных, а также вирусов.

В настоящее время Д.М. Хейкер с сотрудниками разрабатывает станции для рентгеноструктурного анализа на пучках синхротронного излучения.

Профессор Д.М. Хейкер — ученый с мировым именем, создатель отечественной школы рентгеновской дифрактометрии. Его ученики успешно работают в лучших российских и зарубежных лабораториях. Монографии Д.М. Хейкера стали настольным руководством для многих инженеров и экспериментаторов. В течение многих лет он яв-

354

ДАНИЭЛЬ МОИСЕЕВИЧ ХЕЙКЕР

лялся членом комиссий по аппаратуре и синхро-тронному излучению Международного союза кристаллографов, членом Национального комитета российских кристаллографов и Совета Президиума РАН по приборно-техническому оснащению. Профессор Хейкер награжден медалями "За доблестный труд" и "Ветеран труда", шестью

медалями ВДНХ, удостоен звания "Заслуженный деятель науки Российской Федерации".

Редколлегия журнала "Кристаллография" поздравляет своего постоянного автора, а коллеги — своего друга и учителя с днем рождения, желают ему крепкого здоровья и дальнейших научных достижений

КРИСТАЛЛОГРАФИЯ том 60 № 2 2015

Для дальнейшего прочтения статьи необходимо приобрести полный текст. Статьи высылаются в формате PDF на указанную при оплате почту. Время доставки составляет менее 10 минут. Стоимость одной статьи — 150 рублей.

Показать целиком