научная статья по теме ДАНИЭЛЬ МОИСЕЕВИЧ ХЕЙКЕР (К 80-ЛЕТИЮ СО ДНЯ РОЖДЕНИЯ) Химия

Текст научной статьи на тему «ДАНИЭЛЬ МОИСЕЕВИЧ ХЕЙКЕР (К 80-ЛЕТИЮ СО ДНЯ РОЖДЕНИЯ)»

КРИСТАЛЛОГРАФИЯ, 2010, том 55, № 2, с. 383-384

ЮБИЛЕИ

ДАНИЭЛЬ МОИСЕЕВИЧ ХЕЙКЕР (К 80-ЛЕТИЮ СО ДНЯ РОЖДЕНИЯ)

4 апреля 2010 г. исполняется 80 лет заслуженному деятелю науки Российской Федерации, доктору физико-математических наук, профессору Даниэлю Моисеевичу Хейкеру.

Д.М. Хейкер — глава отечественной школы рентгеновской дифрактометрии, крупный специалист в области рентгеноструктурного анализа и научного приборостроения, автор более 200 научных трудов, в том числе трех монографий.

Даниэль Моисеевич Хейкер родился в Житомире в 1930 г. Закончив с серебряной медалью среднюю школу, он поступает в 1947 г. в Московский инженерно-физический институт и активно участвует в научных исследованих под руководством профессора Г.С. Жданова и публикует свои первые работы: "Структура сверхпроводников. Рентгенографическое исследование Б1Рё" и "Простой метод расчета множителя поглощения в рентгеноструктурном анализе".

В 1963 г. Д.М. Хейкер с отличием заканчивает МИФИ и поступает на работу инженером в ВНИИ Асбестцемент. Там он создает лабораторию физических методов исследования, оснащенную аппаратурой для электронной микроскопии, инфракрасной спектроскопии, рентгеновской дифрактометрии. Виртуозное владение экспериментальными методиками рентгено-структурного анализа позволяло Д.М. Хейкеру решать задачи как фундаментального, так и прикладного характера, исследуя, например, кинетику образования ферритов меди и задачу определения диаметра волокон и толщины стенок хризо-тилового асбеста.

Даниэль Моисеевич внес большой вклад в развитие отечественного приборостроения. Под его руководством были созданы сцинтилляционный и пропорциональный счетчики, а также многочисленные гониометрические приставки к серийному рентгеновскому дифрактометру. Эти разработки были положены в основу создания рентгеновского дифрактометра общего назначения ДРОН в НПО "Буревестник". В 1958 г. Д.М. Хейкер успешно защищает кандидатскую диссертацию на тему "Дифрактометрические методы решения некоторых основных задач рентге-ноструктурного анализа".

С 1964 г. по настоящее время Даниэль Моисеевич работает в Институте кристаллографии РАН. Здесь им созданы эффективные методики ди-фрактометрического исследования разнообразных монокристаллов, в том числе жидких и кристаллов белков, а также поликристаллических и полимерных материалов. В 1972 г. он защищает диссертацию на степень доктора физико-математических наук на тему "Рентгеновская дифракто-метрия".

Д.М. Хейкер внес огромный вклад в создание отечественных рентгеновских дифрактометров. Совместно с СКБ Института кристаллографии и НПО "Буревестник" им были разработаны автоматические наклонные дифрактометры типа ДАР и четырехкружный автоматический дифракто-метр для монокристаллов типа РЭД. Дифракто-метры ДАР и РЭД выпускались малыми сериями, и ими были оснащены многие лаборатории СССР. С середины 70-х гг. Д.М. Хейкер ведет работы по разработке и изготовлению в нашей стране автоматических рентгеновских дифрактомет-ров с координатными двумерными детекторами.

384

ДАНИЭЛЬ МОИСЕЕВИЧ ХЕЙКЕР

На базе СКБ Института кристаллографии и НПО "Буревестник" под его руководством был разработан и изготовлен многоканальный дифракто-метр для исследования белков ДАРК-2.0. В 1980 г. Д.М. Хейкер, объединив технические возможности ЛВЭ ОИЯИ (Дубна) и СКБ Института кристаллографии, создал дифрактометр КАРД с двумерным детектором на основе пропорциональной камеры с 256 х 256 элементами пространственного разрешения. В течение многих лет на этом уникальном в нашей стране приборе были исследованы сотни образцов монокристаллов белков и их производных, а также вирусов.

В настоящее время Д.М. Хейкер с сотрудниками разрабатывает станции для рентгеноструктур-ного анализа на пучках синхротронного излучения. В 2006 г. завершены работы по созданию первой в России станции белковой кристаллографии "Белок" на накопителе "Сибирь-2" и начата ее регулярная эксплуатация. Решена проблема фокусировки монохроматического пучка СИ с короткой длиной волны при сагиттальным изгибе второго кристалла в двухкристальном монохро-маторе при ограниченном расстоянии источник — образец. Реализованы методы и программы настройки и калибровки фокусирующего канала и дифрактометра станции "Белок". На станции отлажены методики и проведены исследования:

— монокристаллов белков в капилляре при комнатной температуре и без капилляра при температуре до Т = 95 К;

— порошков — получены высококачественные рентгенограммы с угловым разрешением до Д29 = 0.04° и точностью 0.001° при интегрировании интенсивности по всей площади детектора. Возможно исследование малых объемов вещества за минимальное время, при этом устраняются искажения интенсивности и формы линий (асимметрия) из-за конусности. Исследован ряд образцов флюоритов (размер 200—300 мкм) с добавкой редкоземельных элементов, исследованы частички (до 50—100 мкм) из ФЦ судебной экспертизы и т.п.

— На примере облученного электронами монокристалла №С1 показана возможность исследования структуры, размеров (десятки нм), формы и ориентации нанокристаллических включений № и С12. Для нанокристаллов С12. (пр. гр. Сшса), использована модель эллипсоидов, жестко ориентированных относительно матрицы исходного кристалла №С1. Работы по ориентацион-ным соотношениям для кристаллов галогенов выполнены впервые.

При активном участии Д.М. Хейкера завершается создание многоцелевой станции рентгено-структурного анализа "РСА" на боковом пучке из вигглера накопителя "Сибирь-2", которая позволит с высокой точностью и чувствительностью исследовать атомную структуру, включая наноструктуру на монокристаллических и порошковых образцах, а также измерять с высокой точностью диффузный фон для определения структуры нанокластеров в монокристаллах.

Профессор Д.М. Хейкер — ученый с мировым именем, создатель отечественной школы рентгеновской дифрактометрии. Его ученики успешно работают в лучших российских и зарубежных лабораториях. Монографии Д.М. Хейкера стали настольным руководством для многих инженеров и экспериментаторов. В течение многих лет он являлся членом комиссий по аппаратуре и синхро-тронному излучению Международного Союза кристаллографов, членом Национального Комитета Российских кристаллографов и Совета Президиума РАН по приборно-техническому оснащению. Профессор Хейкер награжден медалями "За доблестный труд" и "Ветеран труда", шестью медалями ВДНХ, удостоен звания "Заслуженный деятель науки Российской Федерации".

Редколлегия журнала "Кристаллография" поздравляет своего неизменного автора, а коллеги и ученики своего друга и учителя с днем рождения, желают ему крепкого здоровья и дальнейших научных побед.

Сдано в набор 17.11.2009 г. Подписано к печати 31.01.2010 г. Формат бумаги 60 х 881Д

Цифровая печать Усл. печ. л. 24.0 Усл. кр.-отт. 4.1 тыс. Уч.-изд. л. 24.7 Бум. л. 12.0

Тираж 168 экз. Зак. 54

Учредители: Российская академия наук, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН

Издатель: Российская академия наук. Издательство "Наука", 117997 Москва, Профсоюзная ул., 90 Оригинал-макет подготовлен МАИК "Наука/Интерпериодика" Отпечатано в ППП "Типография "Наука", 121099 Москва, Шубинский пер., 6

Для дальнейшего прочтения статьи необходимо приобрести полный текст. Статьи высылаются в формате PDF на указанную при оплате почту. Время доставки составляет менее 10 минут. Стоимость одной статьи — 150 рублей.

Показать целиком

Пoхожие научные работыпо теме «Химия»